Твердомер FISCHERSCOPE HM2000

Купить

Задать вопрос о товаре

Твердомер FISCHERSCOPE HM2000 представляет собой профессиональный инструмент для измерения микротвёрдости материалов толщиной более 1 – 2 мкм. Исследует механические свойства и упругость с помощью наноиндентирования. Есть автоматический режим измерения.

Модульная конструкция позволяет усовершенствовать прибор по желанию заказчика. Например, можно добавить оптику с более высоким разрешением или измерительную ступень с большей точностью повторяемости. Также можно оборудовать устройство подогреваемой подложкой для образцов, чтобы проводить измерения, не зависящие от температуры.

Прибор FISCHERSCOPE HM2000 подходит для измерения твёрдости тонких покрытий, толщиной более 1 мкм. Поскольку глубина углубления не должна превышать одной десятой общей толщины покрытия, приборы с слишком высокими испытательными нагрузками не справятся с этой задачей. Инденторы проникают в верхний слой, а измеренная твёрдость на самом деле представляет собой смесь покрытия и подложки.

Твердомер может применяться для определения износостойкости покрытий из PVD или CVD, из твёрдых материалов, таких как TiN, CrN и TiAIN, для исследования гальванических покрытий, медицинских материалов, электронных компонентов и проводов. Есть возможность автоматизированного измерения на нескольких образцах. Прибор соответствует DIN EN ISO 14577-1 и ASTM E 2546.

≤ 0,7 мкм/с
Скорость индентора

Документы в PDF

Скачать карточку в формате PDF

Особенности

основание из натурального камня снижает влияние вибрации и устойчива к колебаниям температуры;
программируемая XY-платформа и моторизованная Z-ось для полуавтоматических измерений;
можно проверять мягкие материалы, такие как резина или полимеры;
встроенный микроскоп с тремя настройками увеличения;
точность повторного позиционирования ±2 мкм;
не требуется специальная подготовка образцов;

прибор может быть помещён в измерительную камеру для исключения внешних воздействий (опция);
перемещение в измерительное положение и определение нулевой точки за 30 секунд;
высокая пропускная способность и простота управления;
интуитивно понятное программное обеспечение WIN-HCU;
измерение тёмных поверхностей без предварительной обработки;

Технические характеристики

Измерительная головка
Диапазон измерения твёрдости	0,001 – 120 000 Н/мм2
Диапазон испытательной нагрузки	0,1 – 2000 мН
Разрешение нагрузки	≤ 150 нН
Разрешение по расстоянию	≤ 10 пм
Микроскоп
Объективы	4x, 20x и 40x
Видеоизображение (поле зрения)	1600×1200 мкм, 320×240 мкм, 160×120 мкм
Инденторы
Исполнение	стандартно: для измерения твёрдости по Виккерсу; опционально: для измерения твёрдости Берковичу или с помощью карбидных шариков
Скорость индентора	≤ 0,7 мкм/с
Максимальная степень углубления	150 мкм; опционально до 500 мкм
Платформа для образцов
Исполнение	программируемая XY-регулировка
Область размещения образцов	180×150 мм
Максимальная область перемещения	170×140 мм
Точность повторения XY	±2 мкм (однонаправленная)
Максимальная высота образца	130 мм
Максимальная масса образца	2 кг
Опции
XY-платформа с большей точностью	точность повторения: ±0,5 мкм (однонаправленная)
Микроскоп с более высоким разрешением	5x, 20x, 50x и 100x с видеоизображением 1400×1000 мкм, 350×250 мкм, 140×100 мкм с автофокусировкой и автоматическим определеним объектива
Измерительная камера	закрытая, для снижения воздействий, вызванных воздушными потоками
Держатели образцов	универсальный держатель образцов, универсальный зажим, подложка для полированных образцов микросечений, зажимное устройство для фольги
SHS200 Нагреваемая платформа	нагревается до температуры +200 °C
Nanite AFM атомно-силовой микроскоп	для визуализации и количественной оценки структур в нанометровом диапазоне
Питание	сеть переменного тока 100 – 240 В ± 10%, частота 47 – 63 Гц
Потребляемая мощность	макс. 100 Вт (без учёта ПК)
Класс защиты	IP40
Программное обеспечение	WIN-HCU для ОС Windows
Рабочие температуры	от +10 до +40 °C
Температура хранения	от 0 до +50 °C
Габариты	630×650×610 мм
Масса	120 кг