Набор эталонов для систем компьютерной радиографии CR PHANTOM

Купить

Задать вопрос о товаре

В избранное

Сравнить

Набор эталонов для проверки систем компьютерной радиографии CR PHANTOM позволяет проверять качество различных характеристик и параметры систем в соответствии со стандартами EN 14784-1, ASTM E 2445.

Содержит все необходимые эталоны и дополнительно два дуплексных эталона. Измерение точек коррекции затенения производится в двух направлениях. Вся требуемая информация оказывается на запоминающей пластине всего за одну экспозицию, не требуется поворачивать CR PHANTOM для получения информации в другом направлении. Такие результаты являются более точными и экономят время.

Набор позволяет проверять все параметры систем компьютерной радиографии, включая базовое пространственное разрешение, нерезкость, контрастность, MTF, дрожание лазерного луча, эффект проскальзывания, эффект затенения. Порядок и периодичность проверки данных характеристик описаны в стандартах ASTM E 2445 и EN 14784-1.

10 элементов
Содержание набора

Документы в PDF

Скачать карточку в формате PDF

Особенности

набор компактный: 20 см в высоту и 27,5 см
в ширину;
включает шаблоны отчётов и процедуры контроля;

деревянный футляр защищает набор при хранении и транспортировке.

Элементы набора

T-мишень из латуни	дрожание лазерного пятна, функция MTF, затекание
Дуплексный эталон с пятандцатью парами проволочек (15 D)	базовое пространсвенное разрешение, нерезкость
Улитка BAM	выравнивание по центру пучка
Эталон пар линий	пространственное разрешение
Точки измерений	коррекция затенения
Индикатор положения кассеты	положение кассеты
Однородная алюминиевая полоса	проскальзывание сканера
Линейка см/дюйм	проверка на линейность
Эталон контрастной чувствительности	контрастная чувствительность
Пластина из оргстекла	пластина-держатель