Набор эталонов для проверки систем компьютерной радиографии CR PHANTOM позволяет проверять качество различных характеристик и параметры систем в соответствии со стандартами EN 14784-1, ASTM E 2445.
Содержит все необходимые эталоны и дополнительно два дуплексных эталона. Измерение точек коррекции затенения производится в двух направлениях. Вся требуемая информация оказывается на запоминающей пластине всего за одну экспозицию, не требуется поворачивать CR PHANTOM для получения информации в другом направлении. Такие результаты являются более точными и экономят время.
Набор позволяет проверять все параметры систем компьютерной радиографии, включая базовое пространственное разрешение, нерезкость, контрастность, MTF, дрожание лазерного луча, эффект проскальзывания, эффект затенения. Порядок и периодичность проверки данных характеристик описаны в стандартах ASTM E 2445 и EN 14784-1.
T-мишень из латуни | дрожание лазерного пятна, функция MTF, затекание |
---|---|
Дуплексный эталон с пятандцатью парами проволочек (15 D) | базовое пространсвенное разрешение, нерезкость |
Улитка BAM | выравнивание по центру пучка |
Эталон пар линий | пространственное разрешение |
Точки измерений | коррекция затенения |
Индикатор положения кассеты | положение кассеты |
Однородная алюминиевая полоса | проскальзывание сканера |
Линейка см/дюйм | проверка на линейность |
Эталон контрастной чувствительности | контрастная чувствительность |
Пластина из оргстекла | пластина-держатель |
Введите ваше Имя и Фамилию:
Отправитьили
Войдите, чтобы оставить комментарий