Ультразвуковой дефектоскоп OmniScan X4

Купить

Задать вопрос о товаре

Портативный ультразвуковой дефектоскоп OmniScan X4 - это многофункциональный прибор для комплексного неразрушающего контроля, объединяющий технологии фазированных решеток (PAUT), традиционного ультразвука (UT), дифракционно-временного метода (TOFD), метода общей фокусировки (TFM), фазово-когерентной визуализации (PCI) и сбора данных по волновому фронту (PWI).

Предназначен для выявления сложных повреждений на ранних стадиях в аэрокосмической, нефтегазовой, энергетической отраслях и транспортном машиностроении. Уникальная особенность — повышенная вычислительная мощность, обеспечивающая формирование изображений TFM в среднем в 3 раза быстрее по сравнению с предыдущим поколением.

Прибор сочетает высокую скорость сбора данных, гибкость мультитехнологичных режимов и современные алгоритмы визуализации. Интуитивная настройка сканирования с пошаговой 3D-визуализацией плана упрощает работу оператора и снижает время обучения.

Предустановленные профили для проверки коррозии, композитов и типовых сварных соединений позволяют быстро приступать к работе, а гибкая настройка под сканеры расширяет сферы применения.

×3 быстрее
формирование изображений по предыдущим поколением

Документы в PDF

Скачать карточку в формате PDF

Принцип работы

Прибор генерирует ультразвуковые импульсы, которые через пьезоэлектрические преобразователи направляются в контролируемый материал. Отраженные от дефектов и границ раздела сигналы принимаются и обрабатываются с использованием выбранного метода визуализации. Мощный вычислительный модуль в реальном времени формирует изображение внутренней структуры объекта, позволяя оператору выявлять и классифицировать дефекты.

Преимущества

Поддержка всех ключевых методов ультразвукового контроля позволяет решать широкий спектр задач без приобретения дополнительного оборудования.
Опция построения АРД-диаграммы для PAUT
Увеличенная вычислительная мощность обеспечивает формирование TFM-изображений в среднем в 3 раза быстрее предыдущего поколения, сокращая время контроля и повышая производительность.
PCI повышает уверенность в классификации мелких и скопленных дефектов, включая устаревшие трещины и краевые повреждения.
Технология Twin TFM + PCI позволяет одновременно использовать два датчика для сканирования и сопоставления результатов TFM и PCI за один проход.
Прибор адаптирован для работы в тяжелых эксплуатационных условиях, сохраняя работоспособность при вибрациях, перепадах температур и повышенной влажности.
Пошаговая 3D-визуализация плана сканирования, предустановленные профили и горячие клавиши сокращают время обучения и ускоряют работу аналитика.

Особенности

Ультразвуковой дефектоскоп OmniScan X4 фото 1

OmniScan X4 представляет собой эволюционное развитие платформы OmniScan, сохраняя привычный интерфейс и добавляя принципиально новые возможности.
PCI позволяет визуализировать дефекты, которые сложно выявить традиционными методами, включая мелкие усталостные трещины и скопленные повреждения.
Повышенная скорость формирования TFM делает этот метод доступным для повседневного применения, а не только для исследовательских задач.
Twin TFM + PCI открывает новые возможности для анализа сложных объектов, позволяя сопоставлять данные от разных методов в реальном времени.

Решаемые задачи

Контроль сварных соединений различной конфигурации
Обнаружение усталостных трещин, коррозионных поражений и расслоений
Контроль композитных материалов и многослойных конструкций
Измерение толщины стенок при коррозионном мониторинге
Выявление подповерхностных повреждений и скопленных дефектов
Классификация мелких дефектов с помощью фазово-когерентной томографии

Программное обеспечение

Программное обеспечение OmniPC 6 имеет привычный интерфейс OmniScan для быстрого освоения.

Горячие клавиши и множественные сессии на одном ПК
Воспроизведение сбора данных и регулировка усиления в реальном времени
Подстройка наклона, смещения сканирования и индекса в процессе анализа
Инструменты масштабирования и фильтрации для быстрого поиска индикаторов
Специальные режимы для проверки коррозии и TOFD
Экспорт данных в различных форматах для интеграции в отчеты

Комплектация

Дефектоскоп OmniScan X4
Кейс для транспортировки
Литий-ионная батарея
Защитная пленка для экрана
Адаптер питания постоянного тока
Шнур питания (модель зависит от страны поставки)
Пустой USB-ключ для передачи файлов
USB-ключ с последней версией программного обеспечения

Технические характеристики

Общие сведения
Размеры	335 мм x 221 мм x 151 мм
Масса	5,7 кг (16:64PR) / 5,9 кг (16:128PR, 32:128PR, 64:128PR) с 1 аккумулятором
Дисплей	269 мм (10,6 дюйма) TFT LCD, резистивный сенсорный экран, 1280 x 768 пикселей
Встроенная память	Внутренний SSD 1 ТБ (макс. размер файла 25 ГБ)
Внешние носители	Карты SDHC/SDXC, USB-накопители
Беспроводная связь	Wi-Fi 6E, Bluetooth 5.3
Разъемы	2 x USB 3.1, HDMI, Ethernet, слот SD, 1 разъем PA, 2 канала UT (2 разъема P/R на каждом)
Энкодеры	2-осевой энкодер (квадратура или направление)
Питание	2 литий-ионных аккумулятора (87 Вт·ч), горячая замена, время работы ≥5 ч; внешний источник 18 В DC
Рабочая температура	-10°C до +45°C
Сертификация	Ударопрочность (MIL-STD-810G), Влагозащита IP65
Ультразвуковые характеристики
Частота	До 100 МГц (коэфф. сжатия настраивается)
Частота дискретизации	До 20 кГц (макс. ЧЗИ, ограничено временем пролета)
Оцифровка	16 бит
Точки данных А-скана	До 16 384
Детектирование	РЧ, полная волна, полуволна +/—
Фильтры	Полосовые, ФВЧ, ФНЧ, усреднение, сглаживание
ВРЧ	PA: 40 дБ (шаг 0,1 дБ) / UT: 100 дБ (шаг 0,1 дБ); макс. нарастание 40 дБ/10 нс
Генератор
Напряжение импульса	5, 10, 20, 40, 80, 120, 160 В (для PA)
Длительность импульса	От 30 до 1000 нс (шаг 5 нс)
Форма импульса	Биполярный прямоугольный
Режимы и группы
Поддерживаемые режимы	PAUT (линейный, секторный), UT, TOFD, TFM, PCI, FMC, PWI
Количество групп	До 8 групп (зависит от модификации: 16:64PR — 2 группы, остальные — 8 групп)
Характеристики ФР (PAUT)
Модификация / Параметр	64:128PR; 32:128PR; 16:128PR; 16:64PR
Макс. активная апертура	64; 32; 16; 16
Макс. приемных элементов	128; 128; 128; 64
Характеристики FMC/TFM/PCI/PWI
Модификация / Параметр	64:128PR; 32:128PR; 16:128PR; 16:64PR
Макс. расширенная апертура (FMC)	128; 64; 32; 32
Макс. апертура (PWI)	64; 32; 16; 16
Кол-во групп TFM или PCI	4; 4; 4; 2
Разрешение изображения TFM/PCI	До 1024 x 1024 (1 млн точек)
Поддерживаемые режимы TFM	Пульс-эхо (L-L, T-T, TT-TT), Самотандем (TT-T, TT-TTT, LL-L, LT-T, TL-T, TT-L, TL-L)
Поддерживаемые режимы PWI	Пульс-эхо (L-L, T-T)
Доступ к сырым данным FMC	Только для модификации 64:128PR (через Black Box или NDT API)