Структуроскоп ВЭ-26НП предназначен для неразрушающего контроля качества изделий из немагнитных сплавов на основе алюминия или меди при помощи измерения их удельной электрической проводимости.
4096
Измерений в памяти
Сортировка изделий по удельной электрической проводимости или ее приращению относительно некоторого базового значения и контроль различных механических характеристик электропроводящих неферромагнитных материалов при наличии экспериментально установленных корреляционных связей между удельной электропроводимостью и этими характеристиками.Встроенный термометр позволяет учесть влияние температуры окружающей среды и повысить точность измерения. Память сохраняет 4096 измерений для последующей передачи на ПК.
Диапазон измерений абсолютного значения удельной электрической проводимости, МСм/м | 5...60 |
---|---|
Диапазон измерений приращений удельной электрической проводимости, МСм/м | 9,99...+9,99 |
Предел допускаемой основной относительной погрешности измерений, %, не более | — в диапазоне измерений от 5 до 40 МСм/м 2 — в диапазоне измерений от 40 до 60 МСм/м 3 |
Допустимый зазор между преобразователем и поверхностью контролируемого изделия, мм, не более | 0,25 |
Индикация результатов измерений | цифровая |
Электропитание | от батареи типа РРЗ, В 9 |
Потребляемая мощность, мВт, не более | 40 |
Диапазон рабочих температур, ºС | 5...40 |
Габариты, мм | 157 х 84 х 30 |
Масса, г | 270 ± 20 |
Введите ваше Имя и Фамилию:
Отправитьили
Войдите, чтобы оставить комментарий